Αγορά Texas Instruments SN74ABT18245ADLR IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Κίνα
Επαγγελματικός προμηθευτής ηλεκτρονικών εξαρτημάτων

Κατάλογοι Κατασκευαστές CN ICs

Η εικόνα μπορεί να είναι αναπαράσταση.
Δείτε τις προδιαγραφές για λεπτομέρειες προϊόντος.

Δείτε περισσότερες πληροφορίες Φύλλα δεδομένων

SN74ABT18245ADLR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Αριθμός ανταλλακτικού

SN74ABT18245ADLR

Κατασκευαστής/Μάρκα

Texas Instruments

Σειρά

74ABT

Κατάσταση μέρους

Active

Συσκευασία

Tape & Reel (TR)

Θερμοκρασία λειτουργίας

-40°C ~ 85°C

Τύπος τοποθέτησης

Surface Mount

Πακέτο / Θήκη

56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)

Πακέτο συσκευής προμηθευτή

56-SSOP

Τάση τροφοδοσίας

4.5 V ~ 5.5 V

Αριθμός Bit

Λογικός τύπος

Scan Test Device with Bus Transceivers

Αίτημα παράθεσης

Συμπληρώστε όλα τα απαιτούμενα πεδία και κάντε κλικ στο "ΥΠΟΒΟΛΗ", θα επικοινωνήσουμε μαζί σας σε 12 ώρες μέσω email. Εάν έχετε οποιοδήποτε πρόβλημα, αφήστε μηνύματα ή email στο [email protected], θα απαντήσουμε το συντομότερο δυνατό.

Σε απόθεμα 48975 PCS

Στοιχεία επικοινωνίας

Σχετικά προϊόντα

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC